11007_測(cè)試與計(jì)量 測(cè)試點(diǎn)-KEYSTONE

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原廠料號(hào):11007品牌:Keystone Electronics

資料說(shuō)明:PC TEST POINT JACK WHITE

11007是測(cè)試與計(jì)量 > 測(cè)試點(diǎn)。制造商KEYSTONE/Keystone Electronics Corp.生產(chǎn)封裝的11007測(cè)試點(diǎn)測(cè)試點(diǎn)專門(mén)用于在測(cè)試設(shè)備和電路之間提供電氣連接。PC 測(cè)試點(diǎn)的類型有:插孔、小型、大尺寸、環(huán)形、小尺寸、迷你型、多用途、R/A(直角)、R/A 雙環(huán)、開(kāi)槽和標(biāo)準(zhǔn)鉤,高度為 0.045" (1.15mm) 至 1.312" (33.33mm)。

  • 芯片型號(hào):

    11007

  • 規(guī)格書(shū):

    原廠下載 下載

  • 企業(yè)簡(jiǎn)稱:

    KEYSTONE詳情

  • 廠商全稱:

    Keystone Electronics Corp.

  • 資料說(shuō)明:

    PC TEST POINT JACK WHITE

產(chǎn)品屬性

  • 類型

    描述

  • 產(chǎn)品編號(hào):

    11007

  • 制造商:

    Keystone Electronics

  • 類別:

    測(cè)試與計(jì)量 > 測(cè)試點(diǎn)

  • 系列:

    11007

  • 包裝:

  • 類型:

    PC 測(cè)試點(diǎn)插孔

  • 顏色:

    白色

  • 大小 / 尺寸:

    0.218" 直徑(5.54mm)

  • 高度:

    0.317"(8.05mm)

  • 鍍層:

    鍍金

  • 材料 - 絕緣:

    聚四氟乙烯(PTFE)

  • 材料 - 基體:

    銅鈹

  • 描述:

    PC TEST POINT JACK WHITE

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