芯云半導(dǎo)體|XINYUN

  • 中文簡稱芯云半導(dǎo)體
  • 英文全稱XINYUN SEMICONDUCTOR
  • 中文全稱杭州芯云半導(dǎo)體集團(tuán)有限公司
  • 公司網(wǎng)址www.lkxinyun.com.cn
  • 企業(yè)地址中國浙江省杭州市

芯云半導(dǎo)體集團(tuán)成立于2020年,專注于集成電路領(lǐng)域研發(fā)、高端芯片全流程測(cè)試服務(wù),已在杭州、紹興、富陽等地投產(chǎn)高端芯片測(cè)試基地,并在上海、蘇州、深圳設(shè)立工程研發(fā)中心,是杭州朗迅科技股份有限公司子公司。

公司為產(chǎn)業(yè)客戶提供包括晶圓測(cè)試(Circuit Probe Test)、成品測(cè)試(Final Test),老化測(cè)試(Burn-In Test)和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試(System Level Test)服務(wù)等高端芯片全流程測(cè)試服務(wù)。同時(shí)為客戶提供ATE軟硬件開發(fā)、工程實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)實(shí)驗(yàn)室運(yùn)營科技創(chuàng)新平臺(tái),并推動(dòng)建設(shè)良性循環(huán)的產(chǎn)業(yè)人才生態(tài)。

公司自研建設(shè)了先進(jìn)的IT化、自動(dòng)化的產(chǎn)線體系,嚴(yán)格的質(zhì)量全生命周期管理生產(chǎn)體系;測(cè)試的產(chǎn)品覆蓋智能終端、核心算力、人工智能、車載、通訊等科技主流芯片領(lǐng)域。

經(jīng)營產(chǎn)品

晶圓測(cè)試(Circuit Probe Test)、成品測(cè)試(Final Test),老化測(cè)試(Burn-In Test)和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試(System Level Test)服務(wù)等高端芯片全流程測(cè)試服務(wù)

應(yīng)用領(lǐng)域

智能終端、核心算力、人工智能、車載、通訊等