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CD74HCT280E_集成電路（IC） 奇偶校驗發(fā)生器校驗器-德州儀器

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原廠料號：CD74HCT280E品牌：Texas Instruments

資料說明：IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

CD74HCT280E是集成電路（IC） > 奇偶校驗發(fā)生器和校驗器。制造商TI1/德州儀器生產封裝14-DIP（0.300"，7.62mm）的CD74HCT280E奇偶校驗發(fā)生器和校驗器邏輯奇偶校驗發(fā)生器和校驗器系列器件是元件級器件，用于評估設置為 1 的數字字中的位數，并另外生成（或評估）一個奇偶校驗位，指示設置為 1 的字中的位數是偶數還是奇數。此功能通常用作檢測在傳輸過程中可能引入的數據錯誤的簡單方法。

  • 芯片型號：

    cd74hct280e

  • 規(guī)格書：

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  • 企業(yè)簡稱：

    TI1【德州儀器】詳情

  • 廠商全稱：

    Texas Instruments

  • 資料說明：

    IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

產品屬性

  • 類型

    描述

  • 產品編號：

    CD74HCT280E

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 奇偶校驗發(fā)生器和校驗器

  • 系列：

    74HCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）剪切帶（CT）Digi-Reel? 得捷定制卷帶

  • 邏輯類型：

    奇偶校驗發(fā)生器/校驗器

  • 電路數：

    9 位

  • 電流 - 輸出高、低：

    4mA，4mA

  • 工作溫度：

    -55°C ~ 125°C

  • 安裝類型：

    通孔

  • 封裝/外殼：

    14-DIP（0.300"，7.62mm）

  • 供應商器件封裝：

    14-PDIP

  • 描述：

    IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

供應商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
Texas Instruments
24+
14-DIP(0.300,7.62mm)
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