CT3767-0_測試與計量 測試探頭尖-CAL

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原廠料號:CT3767-0品牌:Cal Test Electronics

資料說明:COMPACT PROBE BODY 2MM/832 TIP B

CT3767-0是測試與計量 > 測試探頭尖。制造商CAL/Cal Test Electronics生產封裝的CT3767-0測試探頭尖測試探頭尖可用于將測試設備連接至要測試的電路/芯片/設計。該器件通常由圓柱形棒組成,頭部為凹面頭、凸頭、冠頭、夾頭、尖頭或插片頭,或鉤形端頭。另一端通常是引線。產品特征包括尖頭類型、連接類型、尖頭長度、總長度、額定電壓和電纜級別(CAT I、CAT II、CAT III、CAT IV、IEC)。

  • 芯片型號:

    ct3767-0

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  • 企業(yè)簡稱:

    CAL詳情

  • 廠商全稱:

    Cal Test Electronics

  • 資料說明:

    COMPACT PROBE BODY 2MM/832 TIP B

產品屬性

  • 類型

    描述

  • 產品編號:

    CT3767-0

  • 制造商:

    Cal Test Electronics

  • 類別:

    測試與計量 > 測試探頭尖

  • 系列:

    Cal Test

  • 包裝:

  • 尖頭 - 類型:

    帶切口尖頭,0.080"(2.03mm)直徑,8-32 螺紋

  • 連接類型:

    香蕉式,母插口(插孔)

  • 長度 - 尖頭:

    0.709"(18.00mm)

  • 顏色:

    黑色

  • 額定電壓:

    1000V

  • 等級:

    CAT III 1000V

  • 數(shù)量:

    10 件

  • 材料 - 尖頭:

    鍍鎳黃銅

  • 工作溫度:

    -4 ~ 176°F(-20 ~ 80°C)

  • 描述:

    COMPACT PROBE BODY 2MM/832 TIP B

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