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SN74ABT18652

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74ABT18652PM

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74ABT18652PM

包裝:卷帶(TR)剪切帶(CT)Digi-Reel? 得捷定制卷帶 封裝/外殼:64-LQFP 類別:集成電路(IC) 專用邏輯器件 描述:IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

TI1Texas Instruments

德州儀器

詳細參數(shù)

  • 型號:

    SN74ABT18652

  • 制造商:

    TI

  • 制造商全稱:

    Texas Instruments

  • 功能描述:

    SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

供應(yīng)商型號品牌批號封裝庫存備注價格
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更多SN74ABT18652供應(yīng)商 更新時間2024-12-27 15:00:00