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SN74AHCT1G00-Q1_V01中文資料德州儀器數(shù)據(jù)手冊PDF規(guī)格書

SN74AHCT1G00-Q1_V01
廠商型號

SN74AHCT1G00-Q1_V01

功能描述

SN74AHCT1G00-Q1 Automotive 2-Input Positive-NAND Gates

文件大小

1.14614 Mbytes

頁面數(shù)量

25

生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡稱

TI1德州儀器

中文名稱

德州儀器官網(wǎng)

原廠標(biāo)識
數(shù)據(jù)手冊

下載地址一下載地址二到原廠下載

更新時間

2025-1-29 23:00:00

SN74AHCT1G00-Q1_V01規(guī)格書詳情

1 Features

? AEC-Q100 qualified for automotive applications:

– Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

– Device HBM ESD classification level 2

– Device CDM ESD classification level C4B

? Operating range of 4.5V to 5.5V

? Low power consumption, 10μA maximum ICC

? ±8mA output drive at 5V

? Inputs are TTL-voltage compatible

? Latch-up performance exceeds 250mA

per JESD 17

2 Applications

? Enable or disable a digital signal

? Controlling an indicator LED

? Logic latch or control signals

3 Description

The SN74AHCT1G00-Q1 is a 2-input NAND Gate.

Each gate performs the Boolean function Y = A × B in

positive logic.

供應(yīng)商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
TI/德州儀器
23+
NA/
74
優(yōu)勢代理渠道,原裝正品,可全系列訂貨開增值稅票
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TI
21+
SOT23-5
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原裝現(xiàn)貨
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