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SN74BCT8240ADWR集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74BCT8240ADWR
廠商型號

SN74BCT8240ADWR

參數(shù)屬性

SN74BCT8240ADWR 封裝/外殼為24-SOIC(0.295",7.50mm 寬);包裝為卷帶(TR);類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產(chǎn)品描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS

文件大小

473 Kbytes

頁面數(shù)量

26

生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡稱

TI德州儀器

中文名稱

美國德州儀器公司官網(wǎng)

原廠標(biāo)識
數(shù)據(jù)手冊

下載地址一下載地址二到原廠下載

更新時(shí)間

2025-1-5 13:30:00

產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號:

    SN74BCT8240ADWR

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包裝:

    卷帶(TR)

  • 邏輯類型:

    掃描測試設(shè)備,帶反相緩沖器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù):

    8

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼:

    24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)

  • 供應(yīng)商器件封裝:

    24-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

供應(yīng)商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價(jià)格
TI/德州儀器
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