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SN74BCT8240ANT集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74BCT8240ANT
廠商型號(hào)

SN74BCT8240ANT

參數(shù)屬性

SN74BCT8240ANT 封裝/外殼為24-DIP(0.300",7.62mm);包裝為卷帶(TR);類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產(chǎn)品描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS

文件大小

473 Kbytes

頁(yè)面數(shù)量

26 頁(yè)

生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡(jiǎn)稱

TI德州儀器

中文名稱

美國(guó)德州儀器公司官網(wǎng)

原廠標(biāo)識(shí)
數(shù)據(jù)手冊(cè)

下載地址一下載地址二到原廠下載

更新時(shí)間

2025-1-5 11:22:00

產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號(hào):

    SN74BCT8240ANT

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包裝:

    卷帶(TR)

  • 邏輯類型:

    掃描測(cè)試設(shè)備,帶反相緩沖器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù):

    8

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    通孔

  • 封裝/外殼:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供應(yīng)商器件封裝:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫(kù)存 備注 價(jià)格
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