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SN74BCT8244ADW集成電路（IC）的專用邏輯器件規(guī)格書(shū)PDF中文資料

SN74BCT8244ADW
廠商型號(hào)

SN74BCT8244ADW
參數(shù)屬性

SN74BCT8244ADW 封裝/外殼為24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）；包裝為卷帶（TR）剪切帶（CT）Digi-Reel? 得捷定制卷帶；類別為集成電路（IC）的專用邏輯器件；產(chǎn)品描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
文件大小

642.79 Kbytes
頁(yè)面數(shù)量

28 頁(yè)
生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡(jiǎn)稱

TI【德州儀器】

中文名稱

美國(guó)德州儀器公司官網(wǎng)
原廠標(biāo)識(shí)
數(shù)據(jù)手冊(cè)

下載地址一下載地址二到原廠下載
更新時(shí)間

2025-1-1 23:00:00

產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號(hào)：

    SN74BCT8244ADW

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74BCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）剪切帶（CT）Digi-Reel? 得捷定制卷帶

  • 邏輯類型：

    掃描測(cè)試設(shè)備，帶緩沖器

  • 供電電壓：

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù)：

    8

  • 工作溫度：

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型：

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼：

    24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）

  • 供應(yīng)商器件封裝：

    24-SOIC

  • 描述：

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫(kù)存 備注 價(jià)格
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