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SN74BCT8245ADWR集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料
廠商型號 |
SN74BCT8245ADWR |
參數屬性 | SN74BCT8245ADWR 封裝/外殼為24-SOIC(0.295",7.50mm 寬);包裝為卷帶(TR)剪切帶(CT)Digi-Reel? 得捷定制卷帶;類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產品描述:IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC |
功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
文件大小 |
658.92 Kbytes |
頁面數量 |
29 頁 |
生產廠商 | Texas Instruments |
企業(yè)簡稱 |
TI【德州儀器】 |
中文名稱 | 美國德州儀器公司官網 |
原廠標識 | |
數據手冊 | |
更新時間 | 2025-1-1 23:00:00 |
相關芯片規(guī)格書
更多產品屬性
- 產品編號:
SN74BCT8245ADWR
- 制造商:
Texas Instruments
- 類別:
集成電路(IC) > 專用邏輯器件
- 系列:
74BCT
- 包裝:
卷帶(TR)剪切帶(CT)Digi-Reel? 得捷定制卷帶
- 邏輯類型:
掃描測試設備,帶總線收發(fā)器
- 供電電壓:
4.5V ~ 5.5V
- 位數:
8
- 工作溫度:
0°C ~ 70°C
- 安裝類型:
表面貼裝型
- 封裝/外殼:
24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
- 供應商器件封裝:
24-SOIC
- 描述:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
供應商 | 型號 | 品牌 | 批號 | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價格 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
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