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SN74BCT8373ADWRE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8373ADWRE4

包裝:卷帶(TR) 封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 類別:集成電路(IC) 專用邏輯器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

TI1Texas Instruments

德州儀器

產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號:

    SN74BCT8373ADWRE4

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包裝:

    卷帶(TR)

  • 邏輯類型:

    掃描測試設備,帶 D 型鎖存器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù):

    8

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼:

    24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)

  • 供應商器件封裝:

    24-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

供應商型號品牌批號封裝庫存備注價格
TexasInstruments
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更多SN74BCT8373ADWRE4供應商 更新時間2024-12-28 15:13:00