ZSSC3154集成電路(IC)的傳感器檢測(cè)器接口規(guī)格書PDF中文資料
廠商型號(hào) |
ZSSC3154 |
參數(shù)屬性 | ZSSC3154 包裝為管件;類別為集成電路(IC)的傳感器檢測(cè)器接口;產(chǎn)品描述:DICE (WAFER SAWN) - FRAME |
功能描述 | Automotive Sensor Signal Conditioner with Dual Analog Output |
文件大小 |
341.13 Kbytes |
頁面數(shù)量 |
28 頁 |
生產(chǎn)廠商 | Integrated Device Technology, Inc. |
企業(yè)簡(jiǎn)稱 |
IDT |
中文名稱 | Integrated Device Technology, Inc.官網(wǎng) |
原廠標(biāo)識(shí) | |
數(shù)據(jù)手冊(cè) | |
更新時(shí)間 | 2025-1-11 23:00:00 |
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)品編號(hào):
ZSSC3154BA1C
- 制造商:
IDT, Integrated Device Technology Inc
- 類別:
集成電路(IC) > 傳感器和檢測(cè)器接口
- 包裝:
管件
- 描述:
DICE (WAFER SAWN) - FRAME
供應(yīng)商 | 型號(hào) | 品牌 | 批號(hào) | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價(jià)格 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
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