ZSSC3170EA1D_集成電路(IC) 傳感器檢測(cè)器接口-IDT, Integrated Device Technology Inc

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原廠料號(hào):ZSSC3170EA1D品牌:IDT, Integrated Device Technology Inc

資料說(shuō)明:DICE (WAFER SAWN) - WAFFLE PACK

ZSSC3170EA1D是集成電路(IC) > 傳感器和檢測(cè)器接口。制造商IDT, Integrated Device Technology Inc生產(chǎn)封裝的ZSSC3170EA1D傳感器和檢測(cè)器接口該系列產(chǎn)品可執(zhí)行信號(hào)調(diào)節(jié)、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、激勵(lì)生成和/或各種將傳感器或變送器機(jī)構(gòu)連接到主機(jī)設(shè)備所需的其他功能。示例包括用于 CCD 圖像傳感器的控制器、用于 4-20 mA 接口和類似應(yīng)用的電流變送器、超聲變送器前端、惠斯通電橋接口等。

  • 芯片型號(hào):

    zssc3170ea1d

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  • 資料說(shuō)明:

    DICE (WAFER SAWN) - WAFFLE PACK

產(chǎn)品屬性

  • 類型

    描述

  • 產(chǎn)品編號(hào):

    ZSSC3170EA1D

  • 制造商:

    IDT, Integrated Device Technology Inc

  • 類別:

    集成電路(IC) > 傳感器和檢測(cè)器接口

  • 包裝:

    管件

  • 描述:

    DICE (WAFER SAWN) - WAFFLE PACK

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