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SN74BCT8244ANT集成電路（IC）的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料
| 廠商型號 |
SN74BCT8244ANT |
| 參數屬性 | SN74BCT8244ANT 封裝/外殼為24-DIP（0.300"，7.62mm）；包裝為卷帶（TR）；類別為集成電路（IC）的專用邏輯器件；產品描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
| 功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS |
| 封裝外殼 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 文件大小 |
642.79 Kbytes |
| 頁面數量 |
28 頁 |
| 生產廠商 | Texas Instruments |
| 企業(yè)簡稱 |
TI【德州儀器】 |
| 中文名稱 | 美國德州儀器公司官網 |
| 原廠標識 |  |
| 數據手冊 | |
| 更新時間 | 2025-2-11 11:39:00 |
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更多產品屬性
- 產品編號：
SN74BCT8244ANT
- 制造商：
Texas Instruments
- 類別：
集成電路（IC） > 專用邏輯器件
- 系列：
74BCT
- 包裝：
卷帶（TR）
- 邏輯類型：
掃描測試設備，帶緩沖器
- 供電電壓：
4.5V ~ 5.5V
- 位數：
8
- 工作溫度：
0°C ~ 70°C
- 安裝類型：
通孔
- 封裝/外殼：
24-DIP（0.300"，7.62mm）
- 供應商器件封裝：
24-PDIP
- 描述：
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
| 供應商 | 型號 | 品牌 | 批號 | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價格 |
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