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SN74BCT8373ADWR集成電路（IC）的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料
| 廠商型號 |
SN74BCT8373ADWR |
| 參數(shù)屬性 | SN74BCT8373ADWR 封裝/外殼為24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）；包裝為卷帶（TR）；類別為集成電路（IC）的專用邏輯器件；產(chǎn)品描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC |
| 功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES |
| 封裝外殼 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） |
| 文件大小 |
473.69 Kbytes |
| 頁面數(shù)量 |
26 頁 |
| 生產(chǎn)廠商 | Texas Instruments |
| 企業(yè)簡稱 |
TI【德州儀器】 |
| 中文名稱 | 美國德州儀器公司官網(wǎng) |
| 原廠標識 |  |
| 數(shù)據(jù)手冊 | |
| 更新時間 | 2025-2-6 16:50:00 |
相關芯片規(guī)格書
更多產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)品編號：
SN74BCT8373ADWR
- 制造商：
Texas Instruments
- 類別：
集成電路（IC） > 專用邏輯器件
- 系列：
74BCT
- 包裝：
卷帶（TR）
- 邏輯類型：
掃描測試設備，帶 D 型鎖存器
- 供電電壓：
4.5V ~ 5.5V
- 位數(shù)：
8
- 工作溫度：
0°C ~ 70°C
- 安裝類型：
表面貼裝型
- 封裝/外殼：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）
- 供應商器件封裝：
24-SOIC
- 描述：
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
| 供應商 | 型號 | 品牌 | 批號 | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
TI |
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