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SN74BCT8373ANT_集成電路（IC） 專用邏輯器件-德州儀器

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原廠料號：SN74BCT8373ANT品牌：Texas Instruments

資料說明：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

SN74BCT8373ANT是集成電路（IC） > 專用邏輯器件。制造商TI1/德州儀器生產(chǎn)封裝24-DIP（0.300"，7.62mm）的SN74BCT8373ANT專用邏輯器件專用邏輯 IC 設(shè)計提供應(yīng)用特定的邏輯輸出類型，例如 BCD 速率倍增、可尋址掃描端口、總線終端陣列、CML 驅(qū)動器、比較器、ABT 掃描測試、二進(jìn)制全加法器、互補(bǔ)對加逆變器、可配置緩沖器、觸點顫動消除器、晶體振蕩器、延遲元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收發(fā)器、存儲器解碼器、電源良好檢測器和分頻器。

  • 芯片型號：

    sn74bct8373ant

  • 規(guī)格書：

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  • 企業(yè)簡稱：

    TI1【德州儀器】詳情

  • 廠商全稱：

    Texas Instruments

  • 資料說明：

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

產(chǎn)品屬性

  • 類型

    描述

  • 產(chǎn)品編號：

    SN74BCT8373ANT

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74BCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）

  • 邏輯類型：

    掃描測試設(shè)備，帶 D 型鎖存器

  • 供電電壓：

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù)：

    8

  • 工作溫度：

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型：

    通孔

  • 封裝/外殼：

    24-DIP（0.300"，7.62mm）

  • 供應(yīng)商器件封裝：

    24-PDIP

  • 描述：

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

供應(yīng)商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
Texas Instruments
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