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SN74BCT8373ANT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8373ANT

Package：24-DIP（0.300"，7.62mm）；包裝：卷帶（TR） 類別：集成電路（IC） 專用邏輯器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

TI1Texas Instruments

德州儀器

SN74BCT8373ANTE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8373

SCANTESTDEVICEWITHOCTALD-TYPELATCHES

TI1Texas Instruments

德州儀器

SN74BCT8373A

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TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8373ADW

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德州儀器美國德州儀器公司

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德州儀器

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TI1Texas Instruments

德州儀器

SN74BCT8373NT

SCANTESTDEVICEWITHOCTALD-TYPELATCHES

TI1Texas Instruments

德州儀器

產品屬性

  • 產品編號：

    SN74BCT8373ANT

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74BCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）

  • 邏輯類型：

    掃描測試設備，帶 D 型鎖存器

  • 供電電壓：

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數：

    8

  • 工作溫度：

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型：

    通孔

  • 封裝/外殼：

    24-DIP（0.300"，7.62mm）

  • 供應商器件封裝：

    24-PDIP

  • 描述：

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

供應商型號品牌批號封裝庫存備注價格
Texas Instruments
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40199
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更多SN74BCT8373ANT供應商 更新時間2025-2-26 20:41:00

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