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SN74BCT8374ADWG4_TI/德州儀器_特定功能邏輯 Scan Test Device萬三科技

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1+
  • 廠家型號：

    SN74BCT8374ADWG4

  • 產品分類：

    IC芯片

  • 生產廠商：

    TI/德州儀器

  • 庫存數(shù)量：

    500000

  • 產品封裝：

    NA

  • 生產批號：

    22+

  • 庫存類型：

    常用庫存

  • 更新時間：

    2024-12-30 16:00:00

  • 詳細信息
  • 規(guī)格書下載

原廠料號：SN74BCT8374ADWG4品牌：TI

萬三科技,秉承原裝,購芯無憂

  • 芯片型號：

    SN74BCT8374ADWG4

  • 規(guī)格書：

    下載

  • 企業(yè)簡稱：

    TI【德州儀器】詳情

  • 廠商全稱：

    Texas Instruments

  • 中文名稱：

    美國德州儀器公司

  • 內容頁數(shù)：

    28 頁

  • 文件大?。?/span>

    644.36 kb

  • 資料說明：

    SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

產品屬性

  • 類型

    描述

  • 型號：

    SN74BCT8374ADWG4

  • 功能描述：

    特定功能邏輯 Scan Test Device

  • RoHS：

    否

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 系列：

    SN74ABTH18502A

  • 工作電源電壓：

    5 V

  • 封裝/箱體：

    LQFP-64

  • 封裝：

    Tube

供應商

  • 企業(yè)：

    萬三科技(深圳)有限公司

  • 商鋪：

    進入商鋪

  • 聯(lián)系人：

    阮海燕

  • 手機：

    13530233832

  • 詢價：
  • 電話：

    0755-28193459

  • 傳真：

    0755-28193459

  • 地址：

    深圳市龍華區(qū)民治街道新牛社區(qū)金地梅隴鎮(zhèn)9棟4單元14C

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