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SN74BCT8374A集成電路（IC）專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74BCT8374A
廠商型號(hào)

SN74BCT8374A
參數(shù)屬性

SN74BCT8374A 封裝/外殼為24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）；包裝為卷帶（TR）；類別為集成電路（IC） > 專用邏輯器件；產(chǎn)品描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
文件大小

474.07 Kbytes
頁(yè)面數(shù)量

26 頁(yè)
生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡(jiǎn)稱

TI【德州儀器】

中文名稱

美國(guó)德州儀器公司官網(wǎng)
原廠標(biāo)識(shí)
數(shù)據(jù)手冊(cè)

原廠下載下載地址一下載地址二到原廠下載
更新時(shí)間

2024-10-30 18:50:00

SN74BCT8374A規(guī)格書詳情

SN74BCT8374A屬于集成電路（IC） > 專用邏輯器件。美國(guó)德州儀器公司制造生產(chǎn)的SN74BCT8374A專用邏輯器件專用邏輯 IC 設(shè)計(jì)提供應(yīng)用特定的邏輯輸出類型，例如 BCD 速率倍增、可尋址掃描端口、總線終端陣列、CML 驅(qū)動(dòng)器、比較器、ABT 掃描測(cè)試、二進(jìn)制全加法器、互補(bǔ)對(duì)加逆變器、可配置緩沖器、觸點(diǎn)顫動(dòng)消除器、晶體振蕩器、延遲元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收發(fā)器、存儲(chǔ)器解碼器、電源良好檢測(cè)器和分頻器。

產(chǎn)品屬性

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  • 產(chǎn)品編號(hào)：

    SN74BCT8374ADWR

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74BCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）

  • 邏輯類型：

    掃描測(cè)試設(shè)備，帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器

  • 供電電壓：

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù)：

    8

  • 工作溫度：

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型：

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼：

    24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）

  • 供應(yīng)商器件封裝：

    24-SOIC

  • 描述：

    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫(kù)存 備注 價(jià)格
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