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SN74BCT8374ADWRE4集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料
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廠商型號 |
SN74BCT8374ADWRE4 |
參數(shù)屬性 | SN74BCT8374ADWRE4 封裝/外殼為24-SOIC(0.295",7.50mm 寬);包裝為卷帶(TR);類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產(chǎn)品描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS |
封裝外殼 | 24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) |
文件大小 |
644.36 Kbytes |
頁面數(shù)量 |
28 頁 |
生產(chǎn)廠商 | Texas Instruments |
企業(yè)簡稱 |
TI【德州儀器】 |
中文名稱 | 美國德州儀器公司官網(wǎng) |
原廠標識 | ![]() |
數(shù)據(jù)手冊 | |
更新時間 | 2025-2-20 9:30:00 |
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更多產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)品編號:
SN74BCT8374ADWRE4
- 制造商:
Texas Instruments
- 類別:
集成電路(IC) > 專用邏輯器件
- 系列:
74BCT
- 包裝:
卷帶(TR)
- 邏輯類型:
掃描測試設(shè)備,帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器
- 供電電壓:
4.5V ~ 5.5V
- 位數(shù):
8
- 工作溫度:
0°C ~ 70°C
- 安裝類型:
表面貼裝型
- 封裝/外殼:
24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
- 供應商器件封裝:
24-SOIC
- 描述:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
供應商 | 型號 | 品牌 | 批號 | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價格 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
TI |
22+ |
24SOIC |
9000 |
原廠渠道,現(xiàn)貨配單 |
詢價 | ||
TI/德州儀器 |
23+ |
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50000 |
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22+ |
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20000 |
原裝現(xiàn)貨,實單支持 |
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